方案優(yōu)勢(shì):
豐富的協(xié)議覆蓋:支持Access、Routing、Carrier Ethernet、Switching、Multicast、Reliability、Data Center、Automation、Benchmarking等領(lǐng)域的協(xié)議和接口;
端口類型支持多種速率:速率涵蓋 10M/100M/1G/2.5G/5G/10G/25G/40G/100G;
板卡端口密度多樣化:提供2/4/8/12/16端口密度;
機(jī)箱槽位靈活:提供2U 2槽位、3U 3槽位、3U 6槽位機(jī)箱;
高性價(jià)比:引入競(jìng)爭(zhēng)、降低采購(gòu)成本;
國(guó)產(chǎn)自主:國(guó)內(nèi)生產(chǎn)、安全可控;
定制化服務(wù):提供協(xié)議特性和測(cè)試系統(tǒng)的定制化開發(fā);
快速高效的技術(shù)服務(wù):北京、南京、上海、無錫、武漢、成都、西安、深圳等多個(gè)分支機(jī)構(gòu),7*24小時(shí)技術(shù)服務(wù);
解決方案:
基于十多年的行業(yè)經(jīng)驗(yàn)和研發(fā)積累,信而泰推出了基于PCT架構(gòu)的新一代軟件平臺(tái)Renix、以及BIGTAO-V系列和DarYu-X系列硬件平臺(tái),可為網(wǎng)絡(luò)設(shè)備制造商提供包括基于L2-7層的流量測(cè)試、協(xié)議仿真,性能測(cè)試以及自動(dòng)化測(cè)試在內(nèi)的測(cè)試解決方案,不僅可以大大提升測(cè)試效率,還將有效降低測(cè)試成本。
其中,BIGTAO-V系列可以提供2U 2槽位/3U 6槽位的機(jī)箱, 10M~100G的端口速率,以及2/4/8/16端口的端口密度。DarYu-X系列可以提供3U3槽位/14U12槽位的機(jī)箱,1G~100G/的端口速率,以及4/12/16端口的端口密度。
Renix+BIGTAO-V測(cè)試解決方案,主要面向中低端測(cè)試場(chǎng)景,可為網(wǎng)絡(luò)設(shè)備制造商的產(chǎn)品開發(fā)部門、版本集成與驗(yàn)證部門提供流量測(cè)試、多協(xié)議仿真以及自動(dòng)化測(cè)試,測(cè)試對(duì)象覆蓋接入、傳送、交換機(jī)產(chǎn)品線。
Renix+DarYu-X測(cè)試解決方案,主要面向中高端測(cè)試場(chǎng)景,不僅可為產(chǎn)品開發(fā)部門、版本集成與驗(yàn)證部門提供基礎(chǔ)的流量測(cè)試、多協(xié)議仿真以及自動(dòng)化測(cè)試,還可以為面向運(yùn)營(yíng)商或行業(yè)客戶的對(duì)外集采/招標(biāo)測(cè)試部門提供流量測(cè)試、多協(xié)議仿真、高性能、高端口密度的單機(jī)或業(yè)務(wù)疊加測(cè)試,測(cè)試對(duì)象覆蓋接入、傳送、中高端交換機(jī)、中高端路由器產(chǎn)品線。
隨著5G網(wǎng)絡(luò)的即將大規(guī)模試點(diǎn)和鋪設(shè),5G網(wǎng)絡(luò)的大帶寬、低時(shí)延等技術(shù)特點(diǎn),導(dǎo)致網(wǎng)絡(luò)設(shè)備制造商對(duì)測(cè)試儀器的需求和要求也都在不斷上升。
在測(cè)試設(shè)備的端口速率方面,從1G/10G/50G/100G到200G/400G;在協(xié)議方面,從MPLS/L2VPN/L3VPN到Segment Routing/EVPN/FlexE等新技術(shù);在端口密度方面,不僅要滿足低端口密度的OLT、ONU等接入設(shè)備的測(cè)試需求,還要滿足高端口密度的高端交換機(jī)、核心路由器的測(cè)試需求;在設(shè)備性能方面,不僅要滿足單設(shè)備的功能測(cè)試、性能測(cè)試,還要滿足多設(shè)備組網(wǎng)的多業(yè)務(wù)疊加測(cè)試、性能測(cè)試;在測(cè)試效率方面,不僅要滿足常規(guī)單機(jī)測(cè)試,還要滿足大規(guī)模測(cè)試用例所帶來的自動(dòng)化測(cè)試需求。
對(duì)于網(wǎng)絡(luò)設(shè)備制造商而言,如何滿足產(chǎn)品開發(fā)部門的協(xié)議仿真測(cè)試,版本集成與驗(yàn)證部門的協(xié)議仿真、業(yè)務(wù)疊加測(cè)試,對(duì)外集采測(cè)試部門的業(yè)務(wù)疊加測(cè)試、高性能、高端口密度測(cè)試等需求,并提升其測(cè)試效率、降低測(cè)試成本,已成為企業(yè)管理人員和測(cè)試人員所必須面對(duì)的難題。
背景:
